☆  功能介绍
       微分析试验室主要进行材料的显微组织分析研究，尤其是材料在高温长时服役过程中的组织、结构与析出相的变化规律研究，这些规律对电站材料的损伤分析与寿命评估具有重要作用。试验室通过失效部件的断口或材料损伤分析，寻找事故发生或材料失效的原因；通过对材料组织、结构和析出相的分析，为改善和提高材料性能指明方向。
       ☆  仪器设备
       光学金相显微镜
       超景深三维显微系统（体视显微镜）
       扫描电子显微射电镜
       透射电子显微镜

       ☆  参数及技术水平
       设备名称型号                VEGA 3 XMU扫描电子显微镜(配有EDS、EBSD和≤600℃原位拉压台)
       放大倍数                       1.5～1,000,000倍 
       分辨率                           高真空二次电子   3.0nm（30kV）
       高真空二次电子             8.0nm（3kV）
       背散射电子                    3.5nm（30kV）
       样品室内部尺寸             ≥285mm（宽）×340mm（深）×320mm（高） 
       最大装载样品尺寸         φ280mm×145mm 
       设备名称型号                JEM-2100透射电子显微镜(配有EDS、STEM和≤1300℃原位加热台)
       放大倍数                       2000～1,500,000倍 
       分辨率                          点分辨率  0.23nm
       线分辨率                       0.14nm
       束斑尺寸（直径）         TEM模式  20～200nm
                                            EDS模式   1.0～25nm
       相机长度                       选区衍射  80～2000mm
       ☆  可以开展的试验检测项目：
       开展各种金属导电材料的微观形貌观察，能够拍摄二次电子图像和背散射电子图像。可以进行材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素点、线和面分布测量，晶体/晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量等。